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测试机及测试相关配备 - Tester And Test Relative Equipment
　晶粒测试器 - Die Test Device
　　CR-Die03 - 可以用来协助将晶粒(Die)做精确定位并固定，以方便测试

　
特色：

1.可以用来协助将晶粒(Die)做精确定位并固定，以方便测试
2.操作者将晶圆片(Wafer)切割下来的晶粒(Die)放置于设备上定位，由设备固定并与探针卡(Probe Card)接触测试
3.设备可进行Ｘ、Ｙ、Ｚ、θ四轴调整，方便精确定位
4.晶粒靠边放上治具后，由真空吸附避免偏移
5.单一产品一次性调整后，可快速进行大量产品测试
6.结构设计简洁，操作方便