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影像測試相關設備 - Image Test Relative Equipment
　影像感測器晶片尺寸封裝測試分類機 - CIS/CSP Test Handler
　　CRH6016 - 16 Sites，可高溫
　
特色：

1.針對光箱尺寸較小的機種
2.主要是對 CIS,CSP 產品進行測試
3.測試區共有 16 DUT
4.可以放置產品到 JEDEC Tray 及 Chip Tray(Waffle Tray)
5.有兩個手動出料盤、兩個自動出料箱，工程分類可以分八類
6.設備快速穩定，並具有多重安全保護設施
7.可以選擇性加裝高溫控制，及 AOI 檢測系統
8.人性化操作介面，設定調整與故障排除均十分簡易直覺﹙所見即所是﹚
9.提供各式統計資料，方便進行分析
10.支援單一測試與多重測試(T1 Only, T2 Only or T1+T2 test in one cycle)